Форма индикатрисы рассеяния очень чувствительна к малейшему изменению размера рассеивающих частиц, особенно в области малых углов, близких к 0°, т. е. в направлениях, близких к направлению падения света.

Широко применяется метод светорассеяния под малыми углами, разработанный К. С. Шифриным. Сущность метода заключается в следующем. Параллельный монохроматический пучок света от источника (это может быть лампа накаливания, ртутная лампа или луч лазера) направляется в рабочую камеру, где рассеивается в исследуемой аэрозольной среде. Рассеянный свет фокусируется и регистрируется приемным устройством. Это может быть фотопластинка или фотоэлектронный умножитель (ФЭУ). Далее измеряется яркость света, рассеянного под разными углами, и строится индикатриса рассеяния. На фотопластинке измеряется степень ее почернения в точках, соответствующих разным углам рассеяния, а ФЭУ поворачивается и измеряет яркость рассеянного света под разными углами рассеяния. Индикатриса рассеяния (ее форма) содержит в себе информацию о дисперсном составе рассеивающих частиц. Чтобы получить эту информацию, надо решить обратную задачу теории рассеяния: по измеренной индикатрисе получить распределение крупных частиц по размерам. Это и выполняется методом К. С. Шифрина.

Метод нашел широкое применение в промышленности. Он используется для контроля за работой газовых и паровых турбин, определения спектра размеров капель в водяном факеле пневмометрических форсунок, определения дисперсного состава капель в потоке природного газа и промышленной пыли, поступающей в пылеулавливающие устройства ряда производств. Метод светорассеяния под малыми углами является обобщением метода венцов, изложенного в главе 4. Только в методе венцов определяется средний размер частиц облака или тумана, а в методе малых углов восстанавливается вся кривая распределения частиц аэрозоля по размерам.